西凡贵金属检测仪XF-S8，基于AMPTEK独特的定制的超强Fast SDD探测器技术以及西凡创新的Smart FP算法，可以轻松检测99999金样品。
XF-S8的X射线光路在检测99999金的杂质重元素的效果显著得到提升，配合我们最新的Smart FP算法技术，10~100ppm的银元素的检测因此成为现实。
Smart FP算法模型基于XRF原理建立物理模型，对全谱拟合计算，相比较传统的经验算法，无需依赖标样亦可直接测试，有标样的前提下测试更准确。
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